Aberration corrector, charged particle beam device, and aberration correction method

WO2024154245 Art A1 25. Juli 2024

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024154245
Aktenzeichen: EP23917459
Anmeldetag: 18. Januar 2023
Veröffentlichung: 25. Juli 2024
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/153

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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