Nanowire electrode impedance measurement circuit for dedicated chip for retinal prosthesis, and chip
WO2024156099
Art A1
2. August 2024
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024156099
- Aktenzeichen
- EP23918106
- Anmeldetag
- 28. Januar 2023
- Veröffentlichung
- 2. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/02A61F9/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
2.775 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.