Inspection management system and method

WO2024157381 Art A1 2. August 2024

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024157381
Aktenzeichen: EP23918348
Anmeldetag: 25. Januar 2023
Veröffentlichung: 2. August 2024
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01N1/28G01N21/956G01N23/04G01N23/2251G05B19/418H01J37/305H01L21/02H01L21/677

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

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