Apparatus and method for controlling substrate polish edge uniformity
WO2024158525
Art A1
2. August 2024
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024158525
- Aktenzeichen
- EP23918887
- Anmeldetag
- 29. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 2. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B24B37/04B24B37/005B24B37/26B24B57/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- APPLIED MATERIALS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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