Planar near-field testing method and apparatus, electronic device, and readable storage medium
WO2024164874
Art A1
15. August 2024
Anmelder: ZTE Corporation 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024164874
- Aktenzeichen
- EP24752730
- Anmeldetag
- 30. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 15. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ZTE Corporation
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
ZTE
Chinesisches Unternehmen der Telekommunikations- und Informationstechnik mit Sitz in Shenzhen. Entwickelt Netzwerkausrüstung, Mobilfunktechnik und Endgeräte für Telekommunikationsanbieter.
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