Method of testing one or more optical devices, testing arrangement for testing one or more optical devices, and module for testing one or more optical devices
WO2024165137
Art A1
15. August 2024
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024165137
- Aktenzeichen
- EP23704291
- Anmeldetag
- 6. Februar 2023
- Veröffentlichung
- 15. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- APPLIED MATERIALS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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