Radiation-sensitive composition and pattern formation method
WO2024166630
Art A1
15. August 2024
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024166630
- Aktenzeichen
- EP24753076
- Anmeldetag
- 17. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 15. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/004C08F20/10C08F212/08C08F220/24C08F220/30C08F220/38C08L101/02G03F7/20G03F7/039
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
2.270 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.