Nondestructive inspection device, nondestructive inspection method, and nondestructive inspection program
WO2024166770
Art A1
15. August 2024
Anmelder: KONICA MINOLTA, INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024166770
- Aktenzeichen
- EP24753213
- Anmeldetag
- 31. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 15. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N29/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KONICA MINOLTA, INC.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
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