Point cloud quality assessment method based on projection and multi-scale features, and related apparatus
WO2024169360
Art A1
22. August 2024
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024169360
- Aktenzeichen
- EP23922476
- Anmeldetag
- 8. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 22. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00G06T7/40G06V10/74
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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Fachgebiete
Vertreten von
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