Defect inspection device, defect inspection method, teacher data generation method, and determination model generation method

WO2024171546 Art A1 22. August 2024

Anmelder: KABUSHIKI KAISHA F.C.C. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024171546
Aktenzeichen: EP23922879
Anmeldetag: 16. November 2023
Veröffentlichung: 22. August 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/17G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: KABUSHIKI KAISHA F.C.C.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha F.C.C

F.C.C ist ein japanischer Hersteller von Kupplungen und Antriebsstrangkomponenten für Motorräder und Fahrzeuge mit Sitz in Hamamatsu. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Fluid- und Maschinenelemente, ergänzt um Fertigungstechnik. Die Anmeldungen aus den Jahren 2000 bis 2025 betreffen unter anderem Gussverfahren und stufenlose Riemengetriebe.

266 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von