System and method for calibrating a device-under-test interface
WO2024175211
Art A1
29. August 2024
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024175211
- Aktenzeichen
- EP23708195
- Anmeldetag
- 24. Februar 2023
- Veröffentlichung
- 29. August 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G01R35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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