Semiconductor device and detection system provided with said semiconductor device

WO2024177094 Art A1 29. August 2024

Anmelder: THE UNIVERSITY OF TOKYO, TOYOBO CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024177094
Aktenzeichen: EP24760392
Anmeldetag: 21. Februar 2024
Veröffentlichung: 29. August 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/414G01N27/416

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: THE UNIVERSITY OF TOKYO
TOYOBO CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 University of Tokyo

Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.

3.350 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Toyobo

Japanisches Chemie- und Textilunternehmen mit Sitz in Osaka, das Folien, Fasern und biochemische Produkte herstellt.

1.930 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von