Broad spectrum metrology systems and methods for various metrology mark types
WO2024184017
Art A1
12. September 2024
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024184017
- Aktenzeichen
- EP24705090
- Anmeldetag
- 9. Februar 2024
- Veröffentlichung
- 12. September 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/00G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
5.380 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.