Method For Measuring And/or Compensating For an Aberration in an Image Acquired By an Optical Instrument Comprising A Multispectral Detector Array
WO2024200963
Art A1
3. Oktober 2024
Anmelder: CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024200963
- Aktenzeichen
- EP24723413
- Anmeldetag
- 27. März 2024
- Veröffentlichung
- 3. Oktober 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04N25/61G01M11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Centre National d'Etudes Spatiales
Das Centre National d'Etudes Spatiales ist die staatliche französische Raumfahrtagentur mit Sitz in Paris. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Halbleiter- und Nachrichtentechnik, mit Nebenschwerpunkt in Luft- und Raumfahrttechnik. Anmeldungen laufen kontinuierlich seit dem Jahr 2000.
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