Parameter value acquisition device, parameter value acquisition method, and recording medium

WO2024203342 Art A1 3. Oktober 2024

Anmelder: NEC CORPORATION, NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024203342
Aktenzeichen: EP24779471
Anmeldetag: 13. März 2024
Veröffentlichung: 3. Oktober 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G06N99/00G06N20/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC CORPORATION
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

27.380 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

Vertreten von