Method and apparatus for functional safety testing under transient fault of chip, and device

WO2024217001 Art A1 24. Oktober 2024

Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024217001
Aktenzeichen: EP23933866
Anmeldetag: 7. Dezember 2023
Veröffentlichung: 24. Oktober 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/263G06F11/273

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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