Ultrasonic flaw detection device and ultrasonic flaw detection method
WO2024219176
Art A1
24. Oktober 2024
Anmelder: IHI CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024219176
- Aktenzeichen
- EP24792452
- Anmeldetag
- 27. März 2024
- Veröffentlichung
- 24. Oktober 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N29/26G01N29/24G01N29/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IHI CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
2.182 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.