Systems and methods for monitoring the surface temperature of an object using an imager and the temperature-dependent absorption properties of semiconductors

WO2024233979 Art A1 14. November 2024

Anmelder: CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024233979
Aktenzeichen: EP24804374
Anmeldetag: 10. Mai 2024
Veröffentlichung: 14. November 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G01K11/125G01K13/00G01K1/02G01N21/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 California Institute of Technology

Private Forschungsuniversität in Pasadena, Kalifornien (USA), mit Schwerpunkt auf Naturwissenschaften und Ingenieurwesen. Sie betreibt unter anderem das Jet Propulsion Laboratory und zählt zu den weltweit führenden Technikhochschulen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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