Correction processing method and apparatus for scattering artifact of cone-beam ct image
WO2024234629
Art A1
21. November 2024
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024234629
- Aktenzeichen
- EP23937300
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 21. November 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T11/00G06N3/088
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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Vertreten von
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