Integrated circuit, automated test equipment and method for testing a device under test, using on-chip connections between voltage provider circuits
WO2024240349
Art A1
28. November 2024
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024240349
- Aktenzeichen
- EP23729689
- Anmeldetag
- 24. Mai 2023
- Veröffentlichung
- 28. November 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R35/00G01R31/3167
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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