Method for forming photoresist thin film reactive to extreme ultraviolet rays, and photoresist thin film formed thereby
WO2024242478
Art A1
28. November 2024
Anmelder: DONGJIN SEMICHEM CO., LTD. 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024242478
- Aktenzeichen
- EP24811416
- Anmeldetag
- 23. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 28. November 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/16G03F7/004G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- DONGJIN SEMICHEM CO., LTD.
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
Dongjin Semichem
Der Anmelder ist ein südkoreanischer Hersteller von Chemikalien für die Halbleiter- und Displayindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und Elektrobauelemente sowie auf Klebstoffe, Optik und Kunststofftechnik, insbesondere Fotoresists und Materialien für Dünnschichtprozesse. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.
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