A lithographic apparatus and inspection system with hybrid free space optics and photonic integrated circuits

WO2024251507 Art A1 12. Dezember 2024

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2024251507
Aktenzeichen
EP24728043
Anmeldetag
20. Mai 2024
Veröffentlichung
12. Dezember 2024
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/00G01M11/00G01N21/95G01N21/956G02B6/124G03F9/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML NETHERLANDS B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen