Defect detection method and related device

WO2024255919 Art A1 19. Dezember 2024

Anmelder: LABORATORY FOR ARTIFICIAL INTELLIGENCE IN DESIGN L, THE HONG KONG POLYTECHNIC UNIVERSITY, ROYAL COLLEGE OF ART 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024255919
Aktenzeichen: EP24822864
Anmeldetag: 23. Juli 2024
Veröffentlichung: 19. Dezember 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: LABORATORY FOR ARTIFICIAL INTELLIGENCE IN DESIGN L
THE HONG KONG POLYTECHNIC UNIVERSITY
ROYAL COLLEGE OF ART
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 The Hong Kong Polytechnic University

The Hong Kong Polytechnic University ist eine öffentliche Hochschule in Hongkong mit breitem technisch-medizinischem Forschungsprofil. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Software, ergänzt durch organische Chemie und Verfahrenstechnik. Die Anmeldungen aus 2003 bis 2025 reichen von Augentropfen bis zu Bauplanungssoftware.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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