Method for measuring interface microscopic information of polymer-based nano-precious metal composite material

WO2024259579 Art A1 26. Dezember 2024

Anmelder: SHENZHEN INSTITUTE OF ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS, SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024259579
Aktenzeichen: EP23941886
Anmeldetag: 20. Juni 2023
Veröffentlichung: 26. Dezember 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/65G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: SHENZHEN INSTITUTE OF ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE ACADEMY OF SCIENCES
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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