Testing arrangement and method for determining an optimized distance between a device under test and an antenna of a testing arrangement
WO2024260540
Art A1
26. Dezember 2024
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024260540
- Aktenzeichen
- EP23733944
- Anmeldetag
- 19. Juni 2023
- Veröffentlichung
- 26. Dezember 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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