Image inspection device and image processing method

WO2024261931 Art A1 26. Dezember 2024

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2024261931
Aktenzeichen
EP23942367
Anmeldetag
21. Juni 2023
Veröffentlichung
26. Dezember 2024
Rechtsraum
WO
IPC
G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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