Test mode control circuit, control method, and memory
WO2025007383
Art A1
9. Januar 2025
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025007383
- Aktenzeichen
- EP23944110
- Anmeldetag
- 2. August 2023
- Veröffentlichung
- 9. Januar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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