Correction parameter determination method and apparatus, image reconstruction method and apparatus, and device and medium

WO2025007393 Art A1 9. Januar 2025

Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025007393
Aktenzeichen: EP23944119
Anmeldetag: 23. August 2023
Veröffentlichung: 9. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G06T11/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

2.775 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

Vertreten von