Defect detection method and apparatus, computer device, and storage medium

WO2025007516 Art A1 9. Januar 2025

Anmelder: CONTEMPORARY AMPEREX TECHNOLOGY CO., LIMITED 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025007516
Aktenzeichen: EP23944237
Anmeldetag: 14. Dezember 2023
Veröffentlichung: 9. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: CONTEMPORARY AMPEREX TECHNOLOGY CO., LIMITED
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 CATL

Chinesisches Unternehmen mit Sitz der Konzerngesellschaft in Hongkong, das Batteriezellen und Energiespeicherlösungen für Elektrofahrzeuge und Stromnetze entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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