Scanning Electron Microscopy-Based Sample Analysis

WO2025011851 Art A1 16. Januar 2025

Anmelder: INFINEON TECHNOLOGIES AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025011851
Aktenzeichen: EP24732499
Anmeldetag: 11. Juni 2024
Veröffentlichung: 16. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/2251

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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