Charged particle beam device and surface state evaluation method

WO2025013282 Art A1 16. Januar 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025013282
Aktenzeichen: EP23945155
Anmeldetag: 13. Juli 2023
Veröffentlichung: 16. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/22G01N23/2251

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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