Overlay and alignment metrology systems and methods for semiconductor manufacturing

WO2025016658 Art A1 23. Januar 2025

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025016658
Aktenzeichen: EP24735978
Anmeldetag: 20. Juni 2024
Veröffentlichung: 23. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/00G02B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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