Inspection device
WO2025017831
Art A1
23. Januar 2025
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025017831
- Aktenzeichen
- EP23945835
- Anmeldetag
- 18. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/02055G01B9/02001G01B11/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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