Method for inspecting radio wave reflecton device
WO2025018024
Art A1
23. Januar 2025
Anmelder: JAPAN DISPLAY INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025018024
- Aktenzeichen
- EP24842820
- Anmeldetag
- 22. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01Q15/14H01Q3/44H01Q15/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JAPAN DISPLAY INC.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Japan Display
Japanischer Hersteller von Flüssigkristall- und OLED-Displays für Smartphones und Automobilanwendungen.
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