Defect inspection device for secondary battery member, defect inspection system, defect inspection program, and defect inspection method

WO2025022688 Art A1 30. Januar 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025022688
Aktenzeichen: EP24845074
Anmeldetag: 12. Januar 2024
Veröffentlichung: 30. Januar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01M4/04H01M10/04H01M10/058

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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