Method for observing junction profile of sic semiconductor device
WO2025023360
Art A1
30. Januar 2025
Anmelder: LX SEMICON CO., LTD. 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025023360
- Aktenzeichen
- EP23946786
- Anmeldetag
- 9. August 2023
- Veröffentlichung
- 30. Januar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H10D62/83
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LX SEMICON CO., LTD.
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
LX Semicon
LX Semicon ist ein südkoreanischer Hersteller von Display- und Halbleiterlösungen mit Sitz in Seoul, der aus der Ausgliederung der Halbleitersparte des LG-Konzerns hervorging. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Anzeige-, Signal- und Kontrolltechnik sowie Halbleiter- und Elektronikbauelemente. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2016 bis 2025 ab.
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