Method for producing semiconductor substrate, and resist underlayer film-forming composition
WO2025028314
Art A1
6. Februar 2025
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025028314
- Aktenzeichen
- EP24848969
- Anmeldetag
- 22. Juli 2024
- Veröffentlichung
- 6. Februar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/11C08F220/38C08F228/02G03F7/095H01L21/027
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
2.270 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.