Method for producing semiconductor substrate, and resist underlayer film-forming composition

WO2025028314 Art A1 6. Februar 2025

Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025028314
Aktenzeichen
EP24848969
Anmeldetag
22. Juli 2024
Veröffentlichung
6. Februar 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/11C08F220/38C08F228/02G03F7/095H01L21/027
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
JSR CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

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