Method for generating csamt full-zone apparent resistivity-depth profile

WO2025030734 Art A1 13. Februar 2025

Anmelder: JIANGSU UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025030734
Aktenzeichen: EP23948295
Anmeldetag: 14. Dezember 2023
Veröffentlichung: 13. Februar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01V3/00G01V3/38

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JIANGSU UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Jiangsu University

Die Jiangsu University ist eine chinesische staatliche Universität mit breitem technisch-naturwissenschaftlichem Forschungsprofil. Das Patentportfolio verteilt sich auf Mess- und Prüftechnik, Landwirtschafts- und Nahrungsmitteltechnik sowie Metallurgie und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2007 bis in die Gegenwart belegt.

780 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von