Method for calibrating optical inspection device, and method for manufacturing reflection-type mask blank

WO2025033114 Art A1 13. Februar 2025

Anmelder: AGC INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025033114
Aktenzeichen
EP24851543
Anmeldetag
16. Juli 2024
Veröffentlichung
13. Februar 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/93G01N21/956G03F1/24G03F1/84
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
AGC INC.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 AGC (Asahi Glass)

Japanischer Glas- und Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, früher als Asahi Glass Company firmierend. AGC entwickelt Flachglas, elektronische Materialien, Spezialchemikalien sowie Glasprodukte für Automobil-, Bau- und Elektronikindustrie.

7.331 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen