Method for manufacturing semiconductor substrate and composition for forming underlayer film for metal-containing resist
WO2025033138
Art A1
13. Februar 2025
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025033138
- Aktenzeichen
- EP24851567
- Anmeldetag
- 19. Juli 2024
- Veröffentlichung
- 13. Februar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/11C08G77/12C08G77/24H01L21/027
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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