Characterization and analysis method for dynamic properties of cluster, system, electronic device, and storage medium

WO2025035678 Art A1 20. Februar 2025

Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025035678
Aktenzeichen
EP23949094
Anmeldetag
23. Dezember 2023
Veröffentlichung
20. Februar 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G16C60/00G16C10/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

2.775 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen