Radiation-sensitive composition, resist pattern formation method, and polymer
WO2025037476
Art A1
20. Februar 2025
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025037476
- Aktenzeichen
- EP24854067
- Anmeldetag
- 17. Juni 2024
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/004C08F212/08C08F222/10C08F222/18C08F222/24G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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