Crack-Free Ultrawide-Bandgap Group-Iii-Nitride Semiconductor Films Deposited On Silicon Substrate

WO2025038746 Art A1 20. Februar 2025

Anmelder: UNIVERSITY OF HOUSTON SYSTEM 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025038746
Aktenzeichen: EP24854873
Anmeldetag: 14. August 2024
Veröffentlichung: 20. Februar 2025
Rechtsraum: WO
IPC: C30B23/02C30B29/38C30B25/18C30B29/68

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: UNIVERSITY OF HOUSTON SYSTEM
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 University of Houston System

Der Anmelder ist der Universitätsverbund der University of Houston in den USA. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Halbleiterbauelemente sowie auf Messtechnik, organische Chemie und Pharma- und Biotechnologie. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Metallurgie & Oberflächentechnik

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