Method for image-based sensor trace analysis
WO2025038891
Art A1
20. Februar 2025
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025038891
- Aktenzeichen
- EP24854967
- Anmeldetag
- 15. August 2024
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00G06T7/10G06V10/764G06V10/77G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- APPLIED MATERIALS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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