Surface roughness evaluation method and device therefor, surface roughness evaluation program, and storage medium storing surface roughness evaluation program
WO2025047940
Art A1
6. März 2025
Anmelder: TDK CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025047940
- Aktenzeichen
- EP24859965
- Anmeldetag
- 30. August 2024
- Veröffentlichung
- 6. März 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B21/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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