Vorrichtung und Verfahren zur Frequenzprüfung einer Leiterplatte unter Thermischer Belastung
WO2025049177
Art A1
6. März 2025
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025049177
- Aktenzeichen
- EP24769477
- Anmeldetag
- 20. August 2024
- Veröffentlichung
- 6. März 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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