Inspection device, inspection system, inspection method, and semiconductor device manufacturing method

WO2025057449 Art A1 20. März 2025

Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, TOSHIBA ELECTRONIC DEVICES&STORAGE CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025057449
Aktenzeichen: EP24864959
Anmeldetag: 7. Februar 2024
Veröffentlichung: 20. März 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
TOSHIBA ELECTRONIC DEVICES&STORAGE CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

13.642 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Toshiba Electronic Devices & Storage

Toshiba Electronic Devices & Storage ist eine Tochtergesellschaft des japanischen Toshiba-Konzerns für Halbleiterbauelemente und Speicherprodukte. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Software und Telekommunikation. Die Anmeldungen betreffen überwiegend Halbleiterbauelemente und zugehörige Steuerschaltungen.

254 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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