Pinhole and deaeration failure inspection method for bag body in which sealed storage container is hermetically packaged, and pinhole and deaeration failure inspection device for bag body in which sealed storage container is hermetically packaged
WO2025057644
Art A1
20. März 2025
Anmelder: SHIN-ETSU HANDOTAI CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025057644
- Aktenzeichen
- EP24865150
- Anmeldetag
- 13. August 2024
- Veröffentlichung
- 20. März 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/673G01M3/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHIN-ETSU HANDOTAI CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shin-Etsu Handotai
Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.
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Vertreten von
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