Shape measurement probe, three-dimensional shape measurement method using same, and non-contact optical measurement device

WO2025069466 Art A1 3. April 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025069466
Aktenzeichen: EP24871284
Anmeldetag: 25. Januar 2024
Veröffentlichung: 3. April 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24G01B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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