Inspection device and inspection method

WO2025070573 Art A1 3. April 2025

Anmelder: TOPPAN HOLDINGS INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025070573
Aktenzeichen: EP24869452
Anmeldetag: 26. September 2024
Veröffentlichung: 3. April 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N33/543A61B5/151A61B5/157G01N33/48G01N33/50G01N33/53

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: TOPPAN HOLDINGS INC.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toppan Printing

Japanischer Konzern für Druck- und Verpackungstechnologien mit Sitz in Tokio, seit 1900 tätig. Produziert zudem Displays, Halbleitermasken und Sicherheitsdrucke.

2.559 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von